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Nombre: | Difracción de rayos X | Shenzhen Railay Tecnología | difractómetro de rayos X Mianyang |
publicado: | 2014-06-16 |
validez: | 0 |
Especificaciones: | Limitación |
cantidad: | |
Descripción Precio: | |
Detailed Product Description: | Difracción de rayos X | Tecnología Railay Shenzhen | Mianyang proporcionada por la tecnología de Railay de difracción de rayos X. Difracción de rayos X, Railay Shenzhen Technology Co., Nanchong de difracción de rayos X es Railay Technology Development Co., Ltd. de la ciudad de Shenzhen (www.inov-x.com) 2014 actualización sido recientemente introducida de difracción de rayos X característico y de rayos X es una longitudes de onda (0.06-20nm) ondas electromagnéticas cortas pueden penetrar en el material de un cierto espesor, y hacer que la sustancia fluorescente emite luz, una emulsión sensible a la cámara, la ionización del gas. Los metales con generador de haces de destino de rayos X de electrones de alta energía, la diana que tiene un elemento que corresponde a una longitud de onda específica, llamados los rayos X característicos. Tal como cobre objetivo de longitud de onda de rayos X correspondiente a 0.154056 nm Nombre del producto: difracción de rayos X portátil (DRX) Terra Modelo: DRX-Terra aplicación Descripción: El análisis principal de fase proporciona un análisis de estructura cristalina, el análisis de los parámetros de la celda unidad del cristal sustancias, Análisis de tensión de descarga: Descargar Marca: Innov-x Origen: USA Los usuarios típicos: Instituto Determinación, Universidad de tama?o de grano y la distorsión reticular si los materiales policristalinos grano sin distorsión, lo suficientemente grande como teoría de la difracción de rayos X Deyang patrón de difracción en polvo de la línea que debe ser particularmente fuerte, pero en el experimento real, las líneas no se pueden ver. Esto se debe al efecto combinado de los factores y los factores físicos tales como el instrumento de Mianyang difractómetro de rayos X, la línea de difracción tan puro ampliándolo. Líneas puras determinan la forma y el ancho de la difracción de rayos X de un tama?o de grano promedio de la muestra, la distribución del tama?o y de los principales defectos de la red cristalina, por lo que el análisis lineal adecuada de la naturaleza y la magnitud de estos pueden ser factores en principio y otra información. ? Muestra de prueba del detector de seguimiento sólo 15 mg, especialmente adecuado para la detección y el análisis de la investigación penal, ambiental, explosivos, corrosión de las tuberías y otros difíciles de recolectar las muestras. |
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Usted es el 16782 visitante
derechos de autor © GuangDong ICP No. 10089450, Ciencia y Tecnología para el Desarrollo Co., Ltd. de Shenzhen Railay Todos los Derechos Reservados.
apoyo técnico: Shenzhen Allways tecnología desarrollo Co., Ltd.
AllSources red'sDescargo de responsabilidad: La legitimidad de la información de la empresa no asume ninguna responsabilidad de garantía
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