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Nombre: | Difracción de rayos X, difracción de rayos X, Chengdu, Shenzhen Tecnología Railay |
publicado: | 2014-06-16 |
validez: | 0 |
Especificaciones: | Limitación |
cantidad: | |
Descripción Precio: | |
Detailed Product Description: | La determinación exacta de la constante de red es la estructura básica de la constante de red de los parámetros de los materiales de cristal medidos en el estudio de celosía en fase sólida de cambio constante, determinar el tipo de solución sólida, la determinación curva de solubilidad solución sólida, la determinación de los términos de coeficiente de expansión térmica se han aplicado. La constante de red se determina por la medición de la posición de la línea de difracción de rayos X (θ) se obtienen mediante la medición de la posición del patrón de difracción de cada línea de difracción de un valor constante de red se puede conseguir. ? Automatizada utilizando un dispositivo de vibración de la muestra, eliminando la necesidad de goniómetro de escritorio tradicional, la preparación de muestras más fácil, sin necesidad de encender el goniómetro de ensayo y otras partes mecánicas de Chengdu de difracción de rayos X, utilizando un simple difractómetro de rayos X de Yibin, sin operación profesional, la automatización mayor grado. . Medición de la tensión de rayos X con una tensión local no destructivo, a peque?a escala se puede medir Mianyang difracción de rayos X, la tensión superficial se puede medir, se puede distinguir el tipo de estrés, se mide ningún estado libre de estrés del material, etc, pero su precisión de medida por la organización mayor impacto en la estructura, los rayos X también son difíciles de determinar la tensión transitoria dinámica. § Aplicaciones Terra Innov-x Terra naves espaciales como la difracción de rayos X militar (DRX), se utiliza ampliamente en geología y recursos minerales, productos petroquímicos, productos farmacéuticos, materiales, cemento, costumbres forenses, medioambientales, arqueológicos, y otras áreas, principalmente para análisis de fase proporciona sustancia cristalina, análisis de la estructura cristalina, unidad de análisis de parámetros de la celda, el análisis de tensión. Difracción de rayos X, difracción de rayos X, Chengdu, Tecnología de Shenzhen proporcionada por la tecnología de Railay Railay. Esta información consta de: Railay Technology Development Co., Ltd. de la ciudad de Shenzhen (www.inov-x.com) oferta, somos miembro de la Unión de Comercio, la integridad de todo el proveedor de autenticación de red. No dude en contactar con nosotros, Contacto: Miss Tang |
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derechos de autor © GuangDong ICP No. 10089450, Ciencia y Tecnología para el Desarrollo Co., Ltd. de Shenzhen Railay Todos los Derechos Reservados.
apoyo técnico: Shenzhen Allways tecnología desarrollo Co., Ltd.
AllSources red'sDescargo de responsabilidad: La legitimidad de la información de la empresa no asume ninguna responsabilidad de garantía
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