[] _ Difracción de rayos X de difracción de rayos X _ Foshan, Shenzhen Ciencia y Tecnología proporcionada por la tecnología Railay Railay. Railay Technology Development Co., Ltd. de la ciudad de Shenzhen (www.inov-x.com) han sido "la certificación de la Liga de Empresas", puedes estar seguro de comprar a través de toda la red, haga clic en el cheque la página "icono de la certificación de la Liga de Negocios", la información de autenticación de la empresa. También puede hacer clic en la "Liga de negocios iconos de servicio" en esta página contacto directamente con nuestro servicio de atención al cliente! Método cristal cristalografía Facturación Facturación monocromática de cristal único de rayos X se irradia rotación de la muestra, el eje de rotación de la muestra al eje de la película cilíndrica producido mediante el registro de las líneas de difracción de Foshan difracción de rayos X, manchas de difracción se forman en la película separada. Tal patrón de difracción medido fácilmente y con precisión y la dirección de difracción de la intensidad de difracción del patrón de difracción del cristal de la estructura cristalina desconocida adecuado para el análisis. Crystal Method Facturación menor puede analizar fácilmente la simetría del cristal (como cuadratura, monoclínico sistema, cristal triclínica, etc) estructura, pero rara vez se utiliza. A través de análisis experimental, el impacto de este artículo se puede obtener polvo de rayos X medidas de difracción de algunos de los factores en los resultados experimentales. Su tama?o (1) partículas de la muestra de polvo tienen un impacto relativamente grande sobre los resultados de análisis de difracción de rayos X de resultados de la prueba muestran que partículas de la muestra de polvo a 50 micras alrededor de Shenzhen difracción de rayos X, los resultados de difracción miden sólo mejor. característica ley de Debye con una irradiación con rayos X colimado a la peque?a muestra de polvo de Shennongjia de difracción de rayos X, con enrollado en una forma cilíndrica y está montada coaxialmente con la información de la muestra de tiras de película de grabación de difracción de difracción de rayos X, el patrón de difracción se obtiene mediante la difracción de algunos de arco. La ventaja de este método es: ⑴ muestra utilizada menos (0,1 mg a); ⑵ muestra contiene todos los rayos reflejados generada; ⑶ dispositivos y la tecnología es relativamente simple. DRX-Terra está dise?ado para la NASA (NASA) desarrolló una, difracción de rayos X automatizado portátil (DRX), para la detección y el análisis de muestras de mineral de muestras de suelo de Marte para determinar la formación geológica de Marte, y el apoyo La presencia de microorganismos y las condiciones ambientales para el análisis de compuestos orgánicos. Ha equipado con "Spirit" y "Opportunity", completó con éxito una expedición geológica de Marte.