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Nombre: | [] _ Difracción de rayos X de difracción de rayos X _ Zhongshan, Shenzhen Railay Tecnología |
publicado: | 2014-06-04 |
validez: | 0 |
Especificaciones: | Limitación |
cantidad: | |
Descripción Precio: | |
Detailed Product Description: | De Debye característica ley con una irradiación con rayos X colimado a las peque?as muestras de polvo, utilizando enrollado en una forma cilíndrica e instalar tiras de muestra coaxiales información de difracción de grabación de película de Huizhou de difracción de rayos X, el patrón de difracción obtenido algunos arco de difracción. La ventaja de este método es: ⑴ muestra utilizada menos (0,1 mg a); ⑵ muestra contiene todos los rayos reflejados generada; ⑶ dispositivos y la tecnología es relativamente simple. DRX-Terra está dise?ado para la NASA (NASA) desarrolló una, difracción de rayos X automatizado portátil (DRX), para la detección y el análisis de muestras de mineral de muestras de suelo de Marte para determinar la formación geológica de Marte, y el apoyo La presencia de microorganismos y las condiciones ambientales para el análisis de compuestos orgánicos. Ha equipado con "Spirit" y "Opportunity" difractómetro de rayos X de Zhongshan, completó con éxito una expedición geológica de Marte. En el tama?o de grano y la distorsión reticular proceso de medición que hay que hacer dos: ⑴ derivado de pura linear experimentos de difracción lineal, el método más común es repetir el Fourier continua transformar y convolución. ⑵ tama?o de grano y la información de defectos obtenido a partir de las líneas correspondientes en el patrón de difracción. Este paso es principalmente para identificar los diversos factores que hacen que el ensanchamiento de la línea, y la separación de los efectos de estos factores sobre la anchura de la difracción de rayos X, para calcular los resultados deseados. Los principales métodos de método de Fourier, método de la varianza lineal y el método de ancho integral. ? Integración geometría de transmisión utilizando técnicas de difracción y detectores CCD de alta sensibilidad, difracción de rayos X y detección de XRF proporcionar simultáneamente información estructural para detectar y composición elemental de la información material. . [] _ Difracción de rayos X de difracción de rayos X _ Zhongshan, Shenzhen Ciencia y Tecnología que proporciona la tecnología de Railay Railay. Bienvenido a consultar Shenzhen Ciencia y Tecnología para el Desarrollo Co., Ltd. Railay (www.inov-x.com), asegúrese de especificar cuando el contacto es a través del "Business Alliance" ver, gracias! Contacto: Miss Tang |
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derechos de autor © GuangDong ICP No. 10089450, Ciencia y Tecnología para el Desarrollo Co., Ltd. de Shenzhen Railay Todos los Derechos Reservados.
apoyo técnico: Shenzhen Allways tecnología desarrollo Co., Ltd.
AllSources red'sDescargo de responsabilidad: La legitimidad de la información de la empresa no asume ninguna responsabilidad de garantía
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